Рассмотрено проведение ускоренных испытаний полупроводниковых приборов на длительную наработку (на примере биполярных транзисторов). Приведена структурная схема разработанной экспериментальной установки для испытания биполярных транзисторов.

Авторы: Янцевич Ю.В., Бурак И.А., Шнейдеров Е.Н.
Организация: Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники, Беларусь