вернуться к содержанию конференции

Вплив паразитної ємності польових транзисторів на рівень власних шумів

В роботі розглянуто вплив паразитної ємності польових МОН-транзисторів на рівень їх власних шумових характеристик, для операцій вхідного та вихідного контролю.

Автор: Михалевський Д.В.
Организация: Вінницький національний технічний університет, Україна


9-я Международная молодёжная научно-техническая конференция «Современные проблемы радиотехники и телекоммуникаций РТ-2013»
22-26 апреля 2013