вернуться к содержанию конференции

Методика получения физико-статистических моделей деградации параметров изделий электронной техники

Рассмотрена методика получения физико-статистических моделей деградации функциональных параметров изделий электронной техники (ИЭТ) и определены пути их использования в задачах группового прогнозирования параметрической надёжности ИЭТ.

Автор: Шнейдеров Е.Н.
Организация: Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники, Беларусь


9-я Международная молодёжная научно-техническая конференция «Современные проблемы радиотехники и телекоммуникаций РТ-2013»
22-26 апреля 2013